Axiovert 5 Materialwissenschaft Metallographie – Auflicht-Mikroskop

Das Axiovert Materialwissenschaft für Metallographie ist ein leistungsstarkes Auflicht-Mikroskop, das speziell für Materialwissenschaft, Metallographie und industrielle Qualitätskontrolle konfiguriert ist. Mit seinen Hellfeld- und Dunkelfeld-Auflichtoptionen ermöglicht es eine präzise Analyse von Oberflächenstrukturen, Fehlern und Mikrostrukturen in Metallen, Keramiken, Leiterplatten und Kunststoffen.

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Technische Ausstattung für Materialanalyse

Die Konfiguration des vorliegenden Axiovert 5 umfasst EC Epiplan HD Objektive (5x, 10x, 20x, 50x), die hochauflösende Bilder für detailgenaue Oberflächenprüfung liefern. Reflektormodule H ACR und DF AL ACR optimieren die Auflicht-Beleuchtung für kontrastreiche Hellfeld- und Dunkelfeldaufnahmen. Mit Kreuztisch 40×40 R/L, Tischlochblenden, Blendenschiebern und Filterschiebern kann die Probe exakt positioniert und der Kontrast individuell angepasst werden. Der Foto-Zwischentubus mit Strahlteiler 50/50 erlaubt die einfache Integration einer Kamera für Dokumentation und Analyse.

  • Auflicht-Hellfeld (Brightfield) & Dunkelfeld (DF AL) – kontrastreiche Visualisierung von Oberflächenstrukturen, Fehlern oder Partikeln.
  • Reflektormodule H ACR & DF AL ACR – optimierte Lichtführung für höchste Bildqualität bei Auflichtanwendungen.
  • EC Epiplan HD Objektive (5x, 10x, 20x, 50x) – hochauflösende Objektive für Detailanalyse und Oberflächenprüfung.
  • Binokularer Tubus 45°/23 & Okulare PL 10x/23 – ergonomische Beobachtung.
  • Foto-Zwischentubus & Schieber mit Strahlteiler 50/50 – einfache Integration von Kameras für Dokumentation und Qualitätskontrolle.
  • Kreuztisch 40×40 R/L, Tischlochblenden, Blendenschieber & Filterschieber – präzises Positionieren der Probe und Optimierung von Beleuchtung und Kontrast.
  • Konversionsfilter 5700-3200K, Graufilter DMR 0,06 & 0,25 – exakte Lichtsteuerung für reproduzierbare Ergebnisse.

 

Service, Wartung und Zubehör

  • Beratung: Wir unterstützen bei der Auswahl der Konfiguration Konfiguration und Integration Konfiguration und Einsatz in der Materialanalyse.
  • Reparatur und Wartung: Durch regelmäßige und professionelle Wartung sichern Sie die langfristige Leistungsfähigkeit Ihres Mikroskops und minimieren Ausfallzeiten. Falls nötig reparieren wir Ihr Mikroskop
  • Inverses Mikroskop Zubehör und Ersatzteile : Finden Sie hochwertige Erweiterungen für die Materialanalyse, Ersatzteile und Upgrades für Ihr AxioVert 5
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Vorteile Auflicht-Konfiguration

Mit dieser Ausstattung profitieren Anwender von präzisen, reproduzierbaren Messergebnissen, hoher Vielseitigkeit durch Hellfeld- und Dunkelfeldoptionen sowie professioneller Dokumentation über Kameraintegration. Die ergonomische Bedienung über den binokularen Tubus und die einfache Positionierung der Proben machen die Arbeit komfortabel und effizient.

  • Präzision und Detailgenauigkeit: Hochauflösende Objektive und Reflektormodule garantieren zuverlässige Analyse.
  • Vielseitigkeit: Hellfeld, Dunkelfeld und Filteroptionen ermöglichen flexible Beleuchtung.
  • Dokumentation und Analyse: Integration von Kameras über Foto-Zwischentubus und Strahlteiler.
  • Ergonomisches Arbeiten: Binokularer Tubus und Kreuztisch ermöglichen komfortable Laborarbeit.

Technische Daten

Komponente Beschreibung
Mikroskopstativ Axiovert 5 Auflicht AL SCB
Binokularer Tubus 45°/23
Okular PL 10x/23 Br. foc
Foto-Zwischentubus links, mit Strahlteiler 50/50
Kreuztisch 40×40 R/L
Tischlochblenden Metall D=115mm d=10mm, 20mm, 30mm
Blendenschieber Aperturblende & regulärer Blendenschieber
Filterschieber Konversionsfilter 5700-3200K, Graufilter 0,06 & 0,25
Reflektormodule H ACR & DF AL ACR
Objektive EC Epiplan HD 5x/0,13, 10x/0,25, 20x/0,4, 50x/0,75

Anwendungen

  • Materialwissenschaften: Analyse von Metallen, Keramiken und Kunststoffen.
  • Metallographie: Untersuchung von Mikrostrukturen, Korrosion, Oberflächenfehlern.
  • Industrielle Qualitätskontrolle: Prüfung von Leiterplatten, Kunststoffteilen oder anderen Bauteilen auf Defekte.
  • Oberflächenanalyse: Hellfeld- und Dunkelfeld-Kontraste zur Visualisierung feiner Details.